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CPV 38511100-1Kategorie

Rasterelektronenmikroskope

6
offene Ausschreibungen aktuell
123
vergebene Aufträge in den letzten 12 Monaten
Deutschland, Dänemark, Frankreich
wo die meisten Ausschreibungen offen sind

Offene Ausschreibungen mit diesem Code

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

Danmarks Tekniske Universitet - DTUDänemarkKMU-freundlich

Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines in-situ Nanoindenter für REM

Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., Max-Planck-Institut für PlasmaphysikDeutschland

Lieferung, Aufstellung und Inbetriebnahme eines EDX und EBSD Detektors

Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., Max-Planck-Institut für PlasmaphysikDeutschland

Acquisition d’un microscope électronique à balayage pour le Laboratoire d’Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux (LEM3) de l’université de Lorraine

Université de LorraineFrankreichKMU-freundlich

EDS and EBSD attachment to a field-emission scanning electron microscope

Kungliga Tekniska högskolanSchweden170.000 €

Scanning Electron Microscope (SEM)

Universiteit MaastrichtNiederlande1 Mio. €

Quelle: TED – Tenders Electronic Daily, © Europäische Union

Wer diese Aufträge gewinnt

Unternehmen mit den meisten Zuschlägen unter diesem Code in den letzten 12 Monaten, laut TED-Bekanntmachungen über vergebene Aufträge.

  1. 1Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbHDeutschland7 Aufträge
  2. 2Carl Zeiss Iberia SLSpanien5 Aufträge
  3. 3FEI EUROPE B.V. Sucursal en EspañaSpanien5 Aufträge
  4. 4CARL ZEISS S.P.A. CON SOCIO UNICOItalien3 Aufträge
  5. 5SC NITECH SRLRumänien3 Aufträge

Über diesen Code

CPV 38511100-1 ist Teil des Common Procurement Vocabulary, des gemeinsamen EU-Verzeichnisses dessen, was öffentliche Auftraggeber einkaufen. Auftraggeber geben CPV-Codes in jeder Bekanntmachung einer Ausschreibung an, damit Lieferanten gezielt nach ihren Leistungen suchen können. Er gehört zu 38511000-0 Elektronenmikroskope.

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